顆粒電位滴定及粒度分析儀

產品型號： Stabino II

所屬分類：分析儀

產品時間：2023-10-28

簡要描述：顆粒電位滴定及粒度分析儀
通過使用stabino，可實現快速便捷的顆粒的電位滴定測試。
分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是必
的。當顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。

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顆粒電位滴定及粒度分析儀

通過使用stabino II，可實現快速便捷的顆粒的電位滴定測試。在分散體系中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是的。當顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。

根據不同的測量原理，有電泳法，電聲法zeta電位，以及stabino測試所得的流動電位。這些是經常被提到的電位參數，來源于作用在顆粒界面雙電層上離子云的剪切力，如圖1。所有這些被測變量都與位于剪切面的顆粒界面電位（PIP）即zeta電位成正比關系。為了建立界面電位，要么通過電泳法或電聲法建立的電場，要么通過機械應力作用于流動電位和電聲法儀器。通過這樣做，來源于溶液中的外部松散附著的離子被帶走，顯露出可被直接測量的界面電位。

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